●特集 外観検査の自動化とこれからの課題

・パネルディスカッション

10年間の発展とこれからの課題

―精密工学会主催「外観検査の自動化」ワークショップから―

コーディネータ

谷内田正彦 (大阪大学大学院)

パネリスト

佐藤宏介(奈良先端科学技術大学院大学)

鷲見和彦(三菱電機株式会社 産業システム研究所)

岡崎信一郎 (NEC インキュベーションセンター)

浅野敏郎(株式会社日立製作所 生産技術研究所)

●FAにおける高速センシング装置―初級者のための序章

夢野与太郎

●イメージセンシングにおいてのボトルネック

越田 剛

●レメルソン特許の衝撃

編集部

●NTSCの呪縛から解かれるFA用カメラ

朋栄/デルフトハイテック/レオニクス

●視覚情報化時代の原点

ナック、 新型アイマークレコーダ 「EMR-8型」 を開発

●#NEWS FOCUS

●映像情報ホットライン

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