●特集 外観検査の自動化とこれからの課題 ・パネルディスカッション 10年間の発展とこれからの課題 ―精密工学会主催「外観検査の自動化」ワークショップから― コーディネータ 谷内田正彦 (大阪大学大学院) パネリスト 佐藤宏介(奈良先端科学技術大学院大学) 鷲見和彦(三菱電機株式会社 産業システム研究所) 岡崎信一郎 (NEC インキュベーションセンター) 浅野敏郎(株式会社日立製作所 生産技術研究所) ●FAにおける高速センシング装置―初級者のための序章 夢野与太郎 ●イメージセンシングにおいてのボトルネック 越田 剛 ●レメルソン特許の衝撃 編集部 ●NTSCの呪縛から解かれるFA用カメラ 朋栄/デルフトハイテック/レオニクス ●視覚情報化時代の原点 ナック、 新型アイマークレコーダ 「EMR-8型」 を開発 ●#NEWS FOCUS ●映像情報ホットライン ・周辺 ・情報・通信 ・情報・ソフト ・ディスプレイ ・ビデオ ・FA